場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
簡(jiǎn)要描述:SEM4000是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍。三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流最大可達(dá)200 nA,在EDS、EBSD、WDS等應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢(shì)。標(biāo)配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器,可觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品。標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,以及直觀的操作界面,讓您的分析工作倍感輕松。
- 產(chǎn)品型號(hào):SEM4000
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間:2024-04-22
- 訪 問 量:1254
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
SEM4000
SEM4000Pro是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍。三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流最大可達(dá)200 nA,在EDS、EBSD、WDS等應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢(shì)。標(biāo)配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器,可觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品。標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,以及直觀的操作界面,讓您的分析工作倍感輕松。
產(chǎn)品特點(diǎn)
配備高亮度、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
分辨率高,30kV下優(yōu)于0.9nm的極限分辨率
三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流可調(diào)范圍大,最大支持 200 nA 的分析束流
標(biāo)配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器
無漏磁物鏡設(shè)計(jì),可直接觀察磁性樣品
標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,中文操作軟件,讓分析工作更輕松
應(yīng)用案例
產(chǎn)品參數(shù)
關(guān)鍵參數(shù) | 高真空分辨率 | 0.9 nm @ 30 kV,SE |
低真空分辨率 | 2.5 nm @ 30 kV,BSE,30 Pa | |
1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa | ||
加速電壓 | 200 V ~ 30 kV | |
放大倍率 | 1 ~ 1,000,000 x | |
電子槍類型 | 肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍 | |
樣品室 | 真空系統(tǒng) | 全自動(dòng)控制 |
低真空模式 | 最大180 Pa | |
攝像頭 | 雙攝像頭 | |
(光學(xué)導(dǎo)航+樣品倉內(nèi)監(jiān)控) | ||
行程 | X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm | |
T: -10°~+70°,R: 360° | ||
探測(cè)器和擴(kuò)展 | 標(biāo)配 | 旁側(cè)二次電子探測(cè)器(ETD) |
低真空二次電子探測(cè)器(LVD) | ||
插入式背散射電子探測(cè)器(BSED) | ||
選配 | 能譜儀(EDS) | |
背散射衍射(EBSD) | ||
插入式掃描透射探測(cè)器(STEM) | ||
樣品交換倉 | ||
軌跡球&旋鈕控制板 | ||
軟件 | 語言 | 中文 |
操作系統(tǒng) | Windows | |
導(dǎo)航 | 光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快捷導(dǎo)航 | |
自動(dòng)功能 | 自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散 |